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招標(biāo)項(xiàng)目編號：0705-244121603131
項(xiàng)目名稱：光罩缺陷檢查分析設(shè)備
項(xiàng)目名稱（英文）：Mask defect inspection and analysis equipment
招標(biāo)機(jī)構(gòu)：
招標(biāo)方式：公開招標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果：重新招標(biāo)
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